其二次電子模式和背散射模式都可對樣品進行成像觀察。背散射模式分辨率雖低于二次電子模式，但其可在一定程度上反應樣品表面成分信息，即背散射模式下原子序數越高，表現出樣品越亮。掃描電鏡配備的能譜可對樣品表面進行元素分析，而且檢測分析速度快，具備點、線、面掃的多種模式選擇。飛納臺式掃描電鏡具有操作簡單、調試...
閱讀量：7152022
1、主機配置： 透鏡內具有二次電子和背散電子模式的TLD電子探測器(In-lens Detector TLD-with SE and BSED Modes; 樣品室內二次電子探測器(Secondary Electron Detector); ICD和MD鏡筒內探測器(Set of two I...
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基本參數： 總束電流：>150nA 探針電流：1nA@1nm探針(200 kV) STEM HAADF ADF分辨率(nm) 0.16 TEM信息分辨率(nm) 0.12 TEM點分辨率(nm) 0.25 STEM放大范圍 150x-230Mx TEM放大范圍 25x-1.50M...
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掃描電鏡能譜一體機生產廠家：Coxem，Oxford型號：EM-30N、AztecOne Xplore儀器主要參數指標1. 放大倍數：150,000 倍2. 分辨率：背散射： 10 nm，二次電子： 6 nm3. 加速電壓：2 KV ~ 15 KV，連續可調，束斑直徑大小連續可調4. 單樣品平均抽真...
閱讀量：7072022
全自動比表面及孔徑分析儀生產廠家：Micromeritics型號：ASAP2460儀器主要參數指標1. 吸附質：N2；2. 比表面積分析范圍：0.0001 ㎡/g 以上；3. 孔徑分析范圍：0.35 nm ~ 500 nm；4. 微孔區段分辨率： 0.02 nm5. 脫氣溫度：50℃ ~ 400℃；...
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